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國家級計算機論文投稿雜志《智能計算機與應用》

發布時間:2016-10-08 15:22所屬分類:電子期刊瀏覽:期刊信息糾錯

期刊名稱: 智能計算機與應用 期刊級別: 國家級期刊 國內統一刊號: 23-1573/TN 國際標準刊號: 2095-2163 期刊周期: 雙月刊 主管單位: 中華人民共和國工

智能計算機與應用雜志投稿目錄表 期刊名稱: 智能計算機與應用
期刊級別: 國家級期刊
國內統一刊號: 23-1573/TN
國際標準刊號: 2095-2163
期刊周期: 雙月刊
主管單位: 中華人民共和國工業和信息化部
主辦單位: 哈爾濱工業大學;黑龍江省信息化辦公室;黑龍江省計算機用戶協會
咨詢郵箱: [email protected]
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  智能計算機與應用》期刊簡介

  • 期刊信息:《智能計算機與應用》2011年創刊,由國家工業和信息化部主管,繼續由哈爾濱工業大學主辦、哈爾濱工業大學計算機科學與技術學院承辦。屬于電子國家級期刊目錄之一,本刊宗旨:堅持理論與實際結合,普及與提高結合,注重科學性、知識性、實用性,普及推廣電腦知識,促進電腦應用水平不斷地提高,為廣大讀者和社會主義現代化建設服務。刊物特色:難易結合、靈活多樣、實用性強、可讀性好。《智能計算機與應用》主管單位:中華人民共和國工業和信息化部,主辦單位:哈爾濱工業大學;黑龍江省信息化辦公室;黑龍江省計算機用戶協會;黑龍江省計算機學會,國內統一刊號:23-1573/TN,國際標準刊號:2095-2163

  • 期刊欄目:綜述與探討 、學術交流、技術專題、技術報告、開發與應用、研究生論壇、技術產品介紹

  • 數據庫收錄情況:國家新聞出版總署收錄 中國知網、維普中文期刊網、萬方期刊數據庫、龍源期刊網收錄
 
  • 辦刊宗旨:《智能計算機與應用》定位為“以學術和技術為主,兼顧應用”的學術期刊。期刊密切關注以計算機應用和學術研究為核心的歷史沿革、現狀熱點及發展趨勢,也可集成計算機技術、方法和理論在通信、網絡、自動控制等當代熱門技術領域的先進應用成果,致力于打造展現計算機技術在多領域、多視角的應用和學術成果、切磋計算機應用經驗的期刊交流平臺。本刊以馬列主義、毛澤東思想、鄧小平理論和“三個代表”重要思想為指導,全面貫徹黨的教育方針和“雙百方針”,理論聯系實際,開展教育科學研究和學科基礎理論研究,交流科技成果,促進學院教學、科研工作的發展,為教育改革和社會主義現代化建設做出貢獻。《智能計算機與應用》原名《電腦學習》

  • 影響因子:截止2014年萬方:影響因子:0.297;總被引頻次:398

  截止2014年知網:復合影響因子:0.238;綜合影響因子:0.093

  • 征稿信息:直接稿到本站即可。

  •《智能計算機與應用》雜志2015年第 2期投稿論文目錄表:

  基于GPU的并行高性能AC算法………………………………徐東亮 張宏莉 姚崇崇

  基于NoC的眾核處理器可靠性仿真分析研究……………………………楊文頂 覃志東

  主從結構的雙時態數據模型的設計應用……………………………黃雄波

  存儲大集中環境下高端FC HBA卡的研究……………………………李曉坤 邵娜

  基于運動和散焦線索的深度提取研究……………………………牛連丁 孫華東 陳銘

  基于柔性神經樹的Internet流量早期識別模型……………………………彭立志 張宏莉

  基于SFTD的信號狀態融合方法……………………………段謨意

  地址解析的兩個相關問題研究……………………………宋廣佳 季振洲

  基于AJAX的設備在線報修系統的設計與實現……………………………王朋 劉衛星 趙勇軍

  一種實體描述短文本相似度計算方法……………………………秦添軼 林蟬 宋博宇 關毅

  論文范文:基于NoC的眾核處理器可靠性仿真分析研究

  引言眾核芯片通過集成多個相對簡單的處理器內核,以并行處理的方式達到提升整個處理器計算能力的目的。但當工藝制程達到100nm級以下時,登納德定律(Dennard Scaling)已失效[1],即特征尺寸的縮小會使得芯片的功耗密度大幅上升,導致芯片過熱,這會加速與芯片溫度相關的諸如NBTI、TDDB和EM等物理失效[2]。對于眾核芯片,如何進行精確的可靠性分析與評估,并采取切實可行的可靠性設計方法是近年來學術界和產業界研究的熱點問題。目前,在眾核可靠性分析與評估方向,已有較多研究成果。文獻[3]考慮了芯片的工藝偏差和多種失效機制,綜合了威布爾分布、正態分布和高斯分布,提出了一個分層的可靠性分析模型,對比使用蒙特卡洛法來評估可靠性,該模型的計算時間大大縮短,而平均誤差只有5%。文獻[4]充分挖掘了眾核芯片的特點和內核的基本狀態,分別建立了基于優雅降級系統和備用冗余系統的可靠性模型,并分析了不同的失效率或冗余內核數量對這兩種系統的可靠性的影響,該文獻可以幫助芯片設計人員進行可靠性設計空間搜索。


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